技術研發

化學分析設備

化學分析設備

火花放射光譜儀 (SPARK)

感應耦合電漿光譜儀 (ICP-OES)

金相分析設備

金相分析設備

SEM電子顯微鏡/EDS能量散射光譜儀

用途:可用於調查PCB、零件、焊點或其他物質的表面狀態與成分。廠房介紹

熱差分析儀

熱差分析儀

DSC用於測定物質的熔點。

主要用於BGA錫球與錫粉,以確保產品的氧化程度與雜質含量符合標準值。